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霍尔效应测试系统

多通道霍尔传感器磁场米集阵外

多通道磁通传感器磁场采集阵列

多维磁场测试系统(磁场分布测试)

磁场校准系统

地磁模拟系统

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磁性探针台系列

磁导率仪

CK-MH-001霍尔效应测试系统

发布日期:2026-03-06 14:22 浏览次数:

一、产品核心定位

CK-MH-001霍尔效应测试仪是一款集性能稳定、功能全面、性价比优异于一体的专业测试设备,凭借精准的测试能力、便捷的操作体验和可靠的运行表现,在国内高校实验室、科研院所及半导体产业领域积累了良好的口碑,拥有广泛且稳定的用户群体,是半导体材料电学特性测试的优选设备。该仪器打破了高端霍尔测试设备高价壁垒,兼顾专业性与实用性,既能满足科研场景的高精度测试需求,也能适配工业端的批量、高效测试要求,助力材料研发与生产制程的精准把控。

二、核心测试原理与应用场景

(一)测试原理

仪器严格遵循范德堡法则开展测试工作,依托霍尔效应核心原理,通过对样品施加精准电流与稳定磁场,采集对应的霍尔电压等关键数据,进而精准解析电子材料的核心电学参数。无论是薄膜类半导体材料,还是块状体材料,均可实现高效、精准测试,适配多形态样品的测试需求,大幅拓宽设备的适用范围。

(二)核心应用场景

CK-MH-001霍尔效应测试仪应用场景多元,覆盖科研、生产、质检全环节,核心应用方向如下:

半导体材料类型判定:快速精准区分半导体材料为N型或P型,明确材料导电属性,为材料研发、选型提供核心依据。

LED磊晶层质量检测:精准测试LED外延层的电学特性,判定磊晶层质量优劣,把控LED器件生产的核心原料品质,提升成品合格率。

HEMT组件性能检测:精准判断HEMT(高电子迁移率晶体管)组件中二维电子气是否有效形成,助力新型微电子器件的研发与性能验证。

太阳能电池制程辅助:测试太阳能电池片相关电学参数,为电池片制程优化、效率提升提供数据支撑,辅助优化生产工艺。

通用半导体材料测试:适配各类常规与新型半导体材料的核心电学参数测试,满足高校教学、科研攻关、企业量产质检等多场景需求。

三、产品核心优势与特点

CK-MH-001霍尔效应测试仪深耕用户测试痛点,在硬件配置、操作体验、测试精度、结构设计等方面实现全面优化,六大核心特点铸就卓越性能:

1. 高精密度电流源,适配高阻材料测试

仪器搭载高精度电流源模块,输出电流精确度可达1nA,微电流输出能力出众,可完美适配半绝缘材料、高电阻值半导体材料的精准测试,解决传统设备无法完成高阻样品测试的行业痛点,拓宽材料测试的边界。

2. 超高精度电表,覆盖宽幅电压测试

配置超高精度电表组件,电压量测能力可达nV级,测试上限高达300V,宽幅电压测试范围既能满足低电阻材料的微电压测试,也能适配常规半导体材料的常规电压测试,测试灵敏度与稳定性兼具,保障各类样品测试数据的精准度。

3. 精简便携设计,低温测试性能优异

仪器整体外型小巧精致、精简美观,机身尺寸与重量适配性强,轻巧便携,可灵活适配实验室、生产车间等多场景摆放与移动。磁铁组极性更换灵活便捷,无需复杂操作即可完成磁场换向;同时搭载专属定制液氮容器,采用人性化密封与控温设计,最大限度保障低温环境下测试的稳定性,满足变温测试的严苛要求。

4. I-V曲线测试,评判欧姆接触质量

仪器支持可视化I-V曲线测试功能,以直观图表形式,精准测量探针四点(A、B、C、D)间的电流-电压特性曲线。通过分析曲线形态,可直观评判样品欧姆接触的好坏,及时排查接触不良、接触电阻过大等问题,保障后续测试数据的真实性与可靠性。

5. 极简操作界面,数据自动解析输出

采用自主研发的一体化操作界面,操作逻辑简洁易懂,用户无需繁琐的画面切换,仅在单一界面即可完成所有测试参数设定、流程启动与数据查看。实验过程中,配套软件可自动采集、计算核心数据,同步输出体载流子浓度、表面载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等关键实验结果,大幅降低操作门槛,提升测试效率,即便新手也能快速上手操作。

6. 专属样品夹具,提升测试可靠度

配备自主研发的弹簧样品夹具,搭配特殊强化设计的弹簧探针,探针强度大幅提升,有效改善探针与样品接触点的电气接触性能,避免接触不良、接触电阻波动等问题干扰测试结果,最大限度提升测试数据的重复性与可靠度;同时省去传统霍尔样品制作的繁琐流程,简化样品装夹步骤,提升测试效率。

四、核心技术参数

参数类别

具体参数

磁场强度

0.65T/1T(可选)

测试温度

常温测试(支持液氮低温拓展测试)

输出电流范围

1nA-1000mA

霍尔电压范围

±1μV~±10V

迁移率测试范围

1-10⁷ cm²/Volt·sec

阻抗测试范围

10⁻⁶-10¹⁰ Ω

载流子浓度测试范围

10⁴-10²³ cm⁻³

样品夹具

弹簧样品夹具(无需繁琐制作霍尔样品)

适配测试材料

全品类半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN等,N型、P型材料均可测试

仪器尺寸(WxDxH)

260*420*280 mm

仪器重量

15kg

五、产品总结

CK-MH-001霍尔效应测试仪凭借高精度测试能力、多元化应用场景、人性化操作设计、高性价比四大核心优势,成为半导体材料电学特性测试的标杆设备。无论是高校教学实验、科研院所的材料研发攻关,还是半导体企业的量产质检、制程优化,都能高效适配需求,以稳定可靠的性能、精准详实的数据,为用户的科研工作与生产管控保驾护航,是半导体领域不可或缺的专业测试利器。


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